統(tǒng)計分析顯示電子元器件失效占電子整機(jī)失效的50%，可靠性檢測技術(shù)仍然面臨著許多挑戰(zhàn)。
| 行業(yè) | 檢測對象 | 用途 | 工藝 | 解決方案 |
| 電子部品 |
印制電路板 |
生產(chǎn) | 絕緣層涂料硬化干燥 | 高溫試驗箱 |
| 層間接合硬化 | 真空高溫試驗箱 | |||
| 脫泡 | 250℃真空高溫箱 | |||
| 評價 | 熱循環(huán)加速試驗 | 冷熱沖擊試驗箱＋ 導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng) | ||
| 溫濕度偏壓電壓加速試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）＋ 絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) | |||
| 高溫高壓材料耐濕試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）＋ 絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) | |||
|
LED |
生產(chǎn)/檢查 | 脫泡試驗 | 真空高溫試驗箱 | |
| 評價 | 高溫試驗 | 高溫試驗箱 | ||
| 低溫放置試驗 | 中型高低溫（濕熱）試驗箱 | |||
| 溫度循環(huán)試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | |||
|
磁性材料 |
生產(chǎn) | 干燥 | 高溫試驗箱 | |
| 評價 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | |||
| 高壓加速老化試驗箱 |
.jpg)
